La difracción de polvo de rayos X (XRD) es una técnica utilizada para la identificación de fases de un material cristalino. Se puede usar para identificar y cuantificar fases cristalinas o amorfas. En el primer caso, también proporciona información sobre la simetría del cristal y las dimensiones de la celda unitaria. Las diferentes configuraciones de los instrumentos XRD permiten medir muestras en polvo (incluyendo el capilar), sólidos o películas depositadas (mediciones con ángulo rasante). Disponemos de dos difractómetros Bruker D8 Advance.