Técnicas de microscopia

Nuestras técnicas de microscopía permiten investigación avanzada en arquitecturas a escala nanométrica, análisis microestructural e interfaces de materiales. Contamos con una amplia gama de técnicas de microscopía avanzada en nuestras instalaciones, listas para apoyar diversas necesidades de investigación.

• Haz de iones focalizado (FIB/FESEM)
• Microscopio electrónico de barrido de escritorio (SEM)
• Microscopio de fuerza atómica (AFM)
• Microscopio confocal de barrido láser
• Microscopio confocal
• Interferometría óptica