La XPS es una técnica de análisis que proporciona información cuantitativa y sobre el estado químico de la superficie del material (normalmente con profundidades de análisis de unos 10 nm). Al irradiar la muestra con una fuente de rayos X, se emiten fotoelectrones desde la superficie y se analiza su energía para determinar la identidad elemental, el estado químico y la cantidad de un elemento. Se pueden analizar muestras macizas y en polvo. Nuestro equipo es un sistema de ultra-alto vacío multi-cámara de SPECS.