La microscopía de fuerza atómica (AFM) es una técnica en la que una punta física afilada detecta localmente la superficie de la muestra. Para adquirir una imagen, la punta (tip) se mueve en un escaneo por raster sobre pequeñas áreas de la muestra, midiendo simultáneamente las propiedades locales. Dependiendo de la interacción entre la punta y la superficie de la muestra, el AFM puede revelar información sobre topografía, estructura magnética, distribución de carga eléctrica, contraste de materiales, función de trabajo, etc., con resolución inferior al nanómetro. Disponemos de 2 microscopios AFM VEECO disponibles.