El sistema NAP-XPS de SPECS permite medir directamente la influencia del entorno gaseoso sobre la superficie de los materiales, con el objetivo de identificar la reestructuración superficial, el estado químico y la estructura electrónica de los materiales que experimentan cambios críticos según las condiciones operativas. Los sistemas NAP-XPS no requieren condiciones de ultra-alto vacío en el área de análisis. Por ello, es una técnica muy potente en múltiples campos, como la investigación en catálisis, análisis químico superficial a presiones cercanas al ambiente, interfaces sólido-gas o dinámica de procesos químicos, entre otros.