Tècniques de microscopia

Les nostres tècniques de microscòpia permeten una recerca avançada en arquitectures a escala nanomètrica, anàlisi microestructural i interfícies de materials. Comptem amb una àmplia gamma de tècniques de microscòpia avançada disponibles internament, preparades per donar suport a diverses necessitats de recerca.

• Feix d’ions focalitzat (FIB/FESEM)
• Microscopi electrònic de rastreig d’escriptori (SEM)
• Microscopi de força atòmica (AFM))
• Microscopi confocal de rastreig làser
• Microscopi confocal
• Interferometria òptica